Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств
Электронная книга
- Автор: И. О. Атовмян
- Издатель:
- Год: 2014
- ISBN:
- Цена: 152 Руб.
Велика сила знания, и книга - лучший носитель премудрости. И идеальный спутник в пути! И это великолепный образец той работы, которая несет знания и помогает решить какие-то проблемы в жизни - "Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств"
В статье изложены основные принципы объединения отдельных тестовых проверок модулей, составляющих цифровое устройство, в единую тест-программу. Объединение проверок проводится при неполной информации относительно реакций неисправного устройства. Формулируются свойства оптимально упорядоченной последовательности проверок в тесте. Предлагаются эвристические алгоритмы упорядочения проверок.
Смеем надеятся, что "Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств" будет полезной и интересной.